LCR 治具
Kelvin 測試治具 M354、M355 、356
M354，M355 和 356 Kelvin 測試治具專門用於精確測試芯片組件上的低值 DCR，包括電阻器，多層電感器，繞線電感器，鐵氧體電感器磁珠，共模扼流圈，芯片保險絲和 0201 中的任何其他芯片組件最大1英寸加尺寸範圍（公制 0603 至 2.5 厘米加）。
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SKG IR 測試治具
SKG IR 測試治具專門用於測試芯片上的 IR 和 Flash，尺寸範圍為 01005，長度超過一英寸（公制 0402 至 2.5cm 以上）。M361A，M362A 和 M363A 專門設計用於 Agilent 4339A / B IR 儀表，它們是 Agilent 16118A IP 治具的“即插即用”替代品。
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SKG IR 測試治具
SKG IR 測試夾具專門用於測試芯片上的 IR 和 Flash，尺寸範圍為 01005，長度超過一英寸（公制 0402 至 2.5cm 以上）。M361，M362 和 M363 可用於大多數使用標準 BNC 或香蕉插頭的紅外測量儀，用於將測試信號電纜連接到儀表，它們可以與客戶要求的 BNC 和/或香蕉插頭的任意組合組裝。
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SKG C / DF 測試治具
SKG C / DF 測試治具專為測試 MLCC 芯片上的電容和損耗因數，尺寸範圍為 01005，長度超過1英寸（公制 0402 至 2.5cm 以上）。M351，M352 和 M353 可用於大多數標準 BNC 連接器的 LCR 儀表。
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Agilent 4339B電纜套件
Agilent 4339B電纜套件、附件和固定裝置。
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膠帶穿孔治具 M357 和 M358
M357 和 M358 設計用於刺穿帶/捲軸包裝的蓋帶並測量口袋內芯片的 C / DF。在測試之後，蓋帶將繼續將芯片保留在帶中。M357 適用於磁帶中 0402 至 2225 芯片尺寸。
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SKG 560 和 560A 型
型號 560 和 560A 專門用於測試芯片電容器上的絕緣電阻。它是最通用的紅外夾具，可用於測試 01005 至 1812（公制0201至4832）的芯片尺寸，無需更換任何工具。560A 型預接線用於 Agilent 4339A / B IR 儀表，560 型預接線用於帶有香蕉接頭的儀表。
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SKG 570 型
570 型專用於測試芯片電容器，可在任何商用測試夾具上提供最高精度。這是通過對夾具的所有部件進行廣泛的屏蔽和接地，專家接觸設計以及使用堅固的機械部件來實現的。
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SKG 550 型
550 型專用於測試 DCR 芯片組件，如電阻器、電感器、共模扼流圈、保險絲等，可在任何商用測試夾具上獲得最高精度。這是通過對夾具的所有部件進行廣泛的屏蔽和接地，專家接觸設計以及使用堅固的機械部件來實現。
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SKG Model 321
SKG Model 321 芯片定位夾具是一種簡單又具有卓越性能的設備。夾具提供了一種簡單的方法，可以始終如一地定位治具和 DUT，從而提高生產率和更精確的測試結果。
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SKG 320 型
SKG 320 型通用適配器用於將非安捷倫固定裝置連接到 Agilent 4339A / B 紅外測量儀。客戶提供的 Agilent 16117C 電纜套件用於將適配器的輸出連接到儀表，適配器的輸入可以是任何配備備有大量連接器的夾具，包括 BNC、三軸 BNC、MHV、SHV 或香蕉連接器。
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絕緣電阻標準SKG 1A 型
SKG 1A 型絕緣電阻標準專門用於檢查 Agilent 4339A 和 4339B 儀表的校準。所有標準都包括 NIST 可溯源校准證書，其中包括測量值和容差以及用於校準的測試電壓。
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