C / DF 測試治具
SKG C / DF 測試治具
產品資訊
MODEL 351 FOR MLCC 0402-1812
MODEL 352 FOR MLCC 1812-1 INCH PLUS
MODEL 353 FOR MLCC 01005-0402
SKG C / DF 測試治具專為測試 MLCC 芯片上的電容和損耗因數，尺寸範圍為 01005，長度超過1英寸（公制 0402 至 2.5cm 以上）。M351，M352 和 M353 可用於大多數標準 BNC 連接器的 LCR 儀表。測試觸點具有良好的防護和屏蔽，因此即使對於值非常低的 MLCC 芯片（小於一個 PF），測量值也是精確和穩定的。
用於測量片上電容器的 C / DF 的 SKG 測試治具
- 多功能 - 可用於各種芯片尺寸
- 操作簡便 - 重量輕，利於使用者抓握
- 拾取芯片時，不易掉落或啟動芯片
- 精確 - 出色的 DF 精
- 低成本
- 堅固耐用 - 長時間需要很少或不需要維護，僅需清潔，是最可重複的測試治具
- 適用於所有電介質，特別適用於 MHz 測試，包括低值嚴格公差芯片。
352 型測試樣品
