EMC Scanner

EMC Scanner
EMC Scanner (EMC雜訊掃描儀) 適用於研發部門與EMC實驗室,適合在PCB開發測試階段快速診斷問題。透過EMC Scanner 以及頻譜分析儀,可以在完整的EMC測試前,透過全平面掃描的方式,找出可疑的雜訊點,節省EMC測試的時間以及成本。
EMC Scanner 頂端安裝高清晰攝影機搭配position table、近場探棒以及頻譜分析儀做結合,支援100 kHz to 6GHz 的量測頻率範圍
  • GPIB
    EMC Scanner
  • USB
    Contriol PC
  • Signal and spectrum analyzers
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    • 全系列產品:
    • ESN-25: provides a total scan area of up to 250 mm x 185 mm x 110 mm
    • RCE-25 provides a total scan area of up to 250 mm x 175 mm x 80 mm
    • RCE-40 supports an area of 400 mm x 280 mm x 100 mm
    • RCE-40H supports an area of 400 mm x 280 mm x 200mm
    • 歡迎聯絡我們,索取產品資訊。
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    • 近場量測的目的:
    • EMC 標準驗證是遠場測試,遠場測試可以傳遞頻率信息,但無法確認實際的干擾位置,在近場量測下,EMC Scanner 可以透過機械手臂的準確定位及掃瞄,找到干擾的根源。

使用EMC Scanner 偵查可疑雜訊點

使用前&使用後

Before the debugging (使用前)
Before the debugging (使用前)
After the debugging (使用後)
After the debugging (使用後)

使用EMC Scanner 偵查可疑雜訊點

使用前&使用後

Before the debugging (使用前)

Before the debugging

384.05 MHz : -22.66 dBm (84.34 dBuV)
48.04 MHz : -34.85 dBm (72.15 dBuV)
dBm to dBuV  dBuV = dBm+107
After the debugging (使用後)

After the debugging

384.05 MHz : -60.66 dBm (46.34 dBuV)
48.04 MHz : -55.05 dBm (51.95 dBuV)

量測方式

Reference Height Measurement

以參考點為準維持固定水平進行移動並讀值

Bottom Mode Measurement

探棒接觸到待測物後讀取數值

User Define Height Measurement

可自定義水平高度進行移動並讀值

掃描區域設定

使用方便友善的介面,可自設定量測範圍

  • 矩形範圍
  • 多邊形範圍:測量獨特形狀的PCB,並且不會對其他區域進行測量以提高掃描速度
  • 定義非測量區域:排除PCB內部無需測量的範圍以提高掃描速度
可以自訂不規則掃描區域
可自行設定掃描區域以及排除不掃描區域,以定點定距離方式掃描。

高清晰度攝影機

  • FHD級的相機鏡頭,可顯示精準的圖像分辨量測
  • 可快速重疊待測物,使用相同位置和量測資訊進行測試
Original image
When position is changed

2D與3D形式輸出結果

2D Chart

以色塊方式呈現2D圖可自訂標記重點註記

3D Chart

高畫質3D圖表、按位置排列的Result sheet、按位置排列的Spectrum images by position、可輸出成Excel格式。

可輸出格式

報告可輸出 PowerPoint 格式

報告可輸出 EXCEL 格式

疊加控制:通過調整圖像的級別顏色和透明度來疊加影像

Single Point report

軟體操作介面

軟體測試程序設定

EMC Scanner 探棒

RFS-R 50

適用於近場量測30MHz到3GHz的高頻範圍,最遠測試距離為3cm
Frequency: 30 MHz to 3 GHz
Overall length: approx. 55 mm
Diameter: approx. 10 mm

RFS-B 3

適用於待測物表面垂直出現的磁場,且適合在狹窄空間內進行量測,如大元件間的測試
Frequency: 30 MHz to 3 GHz
Overall length: approx. 55 mm
Diameter: approx. 2 mm

RFS-E 3

適用於表面耦合產生的電場測試,可以偵測探頭下方 6 x 6 mm 區域
Frequency: 30 MHz to 3 GHz
Overall length: approx. 55 mm
Diameter: approx. 2 mm